Đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini Mega IDea Mainboard Layered Test Frame

Để giải quyết triệt để vấn đề sửa chữa main, thương hiệu Mega Idea đã cho ra đời bộ Đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini Mega IDea, Mainboard Layered Test Frame – công cụ hỗ trợ sửa chữa đắc lực giúp tối ưu thời gian, công sức và hạn chế rủi ro cho kỹ thuật viên.

Tổng quan về đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini Mega IDea

Đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini Mega IDea, Mainboard Layered Test Frame là thiết bị khung test phân tầng (Layered Test Frame) chuyên dụng dành cho 4 dòng máy thuộc iPhone 13 series bao gồm: iPhone 13 Mini, iPhone 13, iPhone 13 Pro và iPhone 13 Pro Max.

Nhờ thiết kế thông minh 4 trong 1 (Four in One), kỹ thuật viên có thể kiểm tra tín hiệu, chức năng của mainboard tầng trên và tầng dưới một cách chính xác mà không cần phải đổ chân hay hàn ghép 2 tầng main lại với nhau.

Những đặc điểm nổi bật của bộ khung test main Mega Idea

Thiết kế 4 in 1 tối ưu & sử dụng 2 mặt

Bộ Đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini Mega IDea, Mainboard Layered Test Frame tích hợp sẵn khuôn hỗ trợ trọn bộ 4 model iPhone 13 series. Thiết kế thông minh cho phép tận dụng khả năng ghép nối hai mặt. Giúp bạn dễ dàng thay đổi linh hoạt giữa các dòng máy:

• Mặt trên / Khuôn tích hợp: Hỗ trợ iPhone 13 Pro và iPhone 13 Pro Max (IP13-Pro / IP13PRO-MAX).

• Vỉ/Khuôn phụ đi kèm: Hỗ trợ iPhone 13 và iPhone 13 Mini (IP13 / IP13-mini).

Định vị chính xác & cố định chắc chắn

Sản phẩm được thiết kế với độ hoàn thiện cực kỳ cao. Khung định vị trung tâm kết hợp với các chốt định vị và khóa cài chắc chắn. Giúp giữ cố định board mạch đúng vị trí 100%, không lo xê dịch trong quá trình đo đạc và kiểm tra.

Cấu tạo của khung test phân tầng

Bộ Đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini Mega IDea, Mainboard Layered Test Frame bao gồm:

1. Nắp trên (Upper cover): Định vị và ép giữ chắc chắn.

2. Khung kim kim loại/Bảng kim (Pin board): Nơi chứa hàng trăm kim do tiếp xúc với điểm tiếp điểm trên mainboard.

3. Khung trung gian (Middle frame) & Chốt định vị (Positioning Pin): Đảm bảo cân bằng và định hình chuẩn xác cho board mạch.

4. Đế hạ (Base): Đế đỡ chịu lực phía dưới.

5. Khóa cài (Buckle): Ép chặt các lớp giúp các điểm kim tiếp xúc tốt nhất.

Công nghệ kim đo đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini

Sản phẩm cung cấp giải pháp kim đo tiên tiến giúp dẫn truyền tín hiệu điện áp mượt mà và ổn định giữa hai tầng main. Trong đó, phiên bản thị trường thường tích hợp loại Kim ăn mòn (Etching Probe):

• Kim ăn mòn (Etching Probe): Đạt độ chính xác cao với đường kính siêu nhỏ Φ0.25mm – Φ0.45mm, chiều dài 7mm. Giá thành hợp lý, vô cùng thích hợp cho các cửa hàng sửa chữa điện thoại.

• Kim lò xo (Spring Probe): Độ bền vượt trội dành cho các trung tâm đào tạo, xưởng sửa chữa lớn chuyên sâu.

Lý do bạn nên sở hữu đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini

• Tiết kiệm thời gian sửa chữa: Không cần hàn/ghép tầng mainboard để kiểm tra các chức năng như lên nguồn, màn hình, cảm ứng, sóng, Wi-Fi,…

• Tránh hư hỏng mainboard: Giảm thiểu việc gia nhiệt nhiều lần làm cong vênh, hở chân vi xử lý hay hư hỏng linh kiện xung quanh.

• Độ chính xác cao: Kim đo tiếp xúc chuẩn xác từng điểm pad, giúp chẩn đoán sự cố đường dây điện áp nhanh chóng.

• Chi phí đầu tư hợp lý: Việc lựa chọn Đế test main iPhone, Mainboard Layered Test Frame đem lại hiệu quả kinh tế cao, đáp ứng đầy đủ nhu cầu công việc từ cơ bản đến nâng cao.

Kết luận đế test main iPhone 13/13 Pro/13 Pro Max/13 Mini

Nếu bạn đang tìm kiếm một giải pháp test mainboard chuyên nghiệp, tối ưu chi phí. Đế test main iPhone 13 Mega IDea, Mainboard Layered Test Frame chắc chắn là lựa chọn không thể bỏ qua. Trang bị ngay thiết bị này để quá trình sửa chữa trở nên đơn giản, an toàn và chuyên nghiệp hơn!

Thông tin Điện Thoại Việt Nam: